Prozess- und Produktentwicklung
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM
Abteilung System Integration & Interconnection Technologies
LED Zuverlässigkeitsanalysen
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- Testlayout
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- Universalmesskopf für LEDs
Bei einer Neuentwicklung, aber auch für den Einsatz von LEDs außerhalb ihrer Spezifikationen ist eine Zuverlässigkeitsanalyse unerlässlich. Standardgemäß können im Haus folgende Belastungen durchgeführt und bewertet werden:
- Variable Duty Cycle
- Lonstante Temperatur mit und ohne Duty Cycle
- Langsame und schnelle Temperaturwechsel
- Temperatur und Feuchte
- Tageslicht und UV-Bestrahlung
Hierbei können folgende Parameter zur Bewertung herangezogen werden:
- Leuchtdichte
- Optisches Spektrum
- Junctiontemperatur (über Uf)
- U/I-Kennlinie
Hierbei können größere Gesamtmodule in einem Klimaschrank oder bis zu 20 LED-Module simultan analysiert werden.
Kommt es bei den Zuverlässigkeitstests zu Ausfällen, werden diese wie bei der Fehleranalyse beschrieben untersucht, entsprechende Empfehlungen gegeben und eine neue Iteration gestartet


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