Anforderungen in der Mikrosystemtechnik, der Medizin, dem Automobilbau und der Industrieelektronik

Am Mittwoch, dem 20. Juni 2012 lädt der Arbeitskreis Mikroelektronik Berlin-Brandenburg des VDI/VDE zu einem Vortrag mit anschließender Besichtigung an das Fraunhofer IZM. IZM-Wissenschaftler referieren zu den Zuverlässigkeitsanforderungen in der Mikrosystemtechnik, der Medizin, dem Automobilbau und der Industrieelektronik und laden hinterher zum Rundgang durch die Zuverlässigkeitslabore.

Elektronische Systeme sind während ihres Betriebes zahlreichen Umwelteinflüssen ausgesetzt. Mechanische Kräfte, Temperaturänderungen und Feuchtigkeitslagerungen u.a können die Zuverlässigkeit wesentlich beeinflussen. Im ersten Teil des Vortrags wird die anwendungsspezifische Qualifikation von Packaging-Lösungen für elektronische Baugruppen auf unterschiedlichen Substraten vorgestellt. Dabei wird auch auf die Möglichkeiten der Fehleranalytik bei Feldausfällen eingegangen. Im zweiten Teil wird auf die Lebensdauervorhersage auf der Basis von beschleunigter Alterung in Kombination mit FEM- Berechnungen eingegangen und die hierzu erforderlichen thermischen, klimatischen und mechanischen Tests vorgestellt. Alle Tests werden nach DIN EN, IEC, IPC und MIL- Standards oder Kundenspezifikation durchgeführt. Im Anschluss werden experimentelle und simulative Methoden vorgestellt, die ein „Design for Reliability“ ermöglichen.

Nach den Vorträgen können Geräte zur Prüfung der Zuverlässigkeit besichtigt werden.

Um Anmeldung wird gebeten in der Geschäftsstelle des VDE-Bezirksvereins Berlin-Brandenburg unter Tel.: (030) 341 45 66; Fax: (030) 342 07 17, E-Mail: etv-berlin@t-online.de.