Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM

Flying Probe Tester

Flying Probe Tester

Flying Probe Tester

Leistungsangebot:

  • Testen von Substraten (link, short und net continuity test)
  • Testen von Baugruppen (ICT, in-circuit-test)
  • Automatische Programmierung von Mikrocontrollern

Spezifikationen:

  • Maximale Substratgröße 24“x18“ (610x457mm²)
  • Wiederholgenauigkeit 25µm
  • 6 Messspitzen (4 top side, 2 bottom side)
  • Min. Padgröße 200µm
  • Optische Registrierung mittels CCD-Kamerasystem (1 top side, 2 bottom side)
  • Vakuumplatte für das Testen von dünnen und kleinen Substraten (top side only)
  • Analogtest (RCL, Diode, Transistor, etc.)
  • Digitaltest
  • 3 interne Stimuli (10V/1A, 80V/1A, Frequenzgenerator 100kHz/20Vpp)
  • Guarding Modul
  • Messmodul mit 12 Bit Auflösung
  • Beschaltung durch externe Stimuli (Lock-In Verstärker etc.) möglich