BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Fraunhofer-Gesellschaft//Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit 
 und Mikrointegration IZM//ENGLISCH
BEGIN:VEVENT
UID:f494231f-3649-496c-9406-586852aadd81
DTSTAMP:20260903T035950Z
SUMMARY:»Elektronikschrott in der In-vitro-Diagnostika-Branche«
DTSTART:20250429T130000Z
DTEND:20250429T140000Z
END:VEVENT
END:VCALENDAR
