Labor für Hochfrequenz-Mikroelektronik: Entwicklung, Test und Validierung von Hochfrequenz- und Sensorsystemen

Wir helfen Unternehmen dabei, energieeffiziente Sensor-, Kommunikations- und Radarsysteme schneller zu entwickeln, technologische Risiken frühzeitig zu erkennen und Innovationen sicher zur Anwendung zu bringen.

Neue Elektronik muss heute leistungsfähiger, energieeffizienter und zuverlässiger sein als je zuvor. Gleichzeitig steigen die Anforderungen an Entwicklungszeit, Produktqualität und Ressourceneffizienz.

Das Labor für Hochfrequenz-Mikroelektronik unterstützt Unternehmen dabei, diese Herausforderungen zu meistern. Wir analysieren Materialien, charakterisieren Hochfrequenzkomponenten, validieren neue Technologien und optimieren den Energieverbrauch elektronischer Systeme bereits in frühen Entwicklungsphasen.

Von der ersten Idee über Prototypen bis zur qualifizierten Technologie profitieren unsere Partner von modernster Laborinfrastruktur, wissenschaftlicher Exzellenz und langjähriger Erfahrung aus Forschungs- und Industrieprojekten.

Unternehmen stehen bei der Entwicklung neuer Sensor- und Hochfrequenzsysteme häufig vor zentralen Fragen:

• Wie lässt sich der Energieverbrauch eines Systems bereits während der Entwicklung minimieren?
• Welche Materialien, Designs und Fertigungsprozesse bieten die beste Performance?
• Wie zuverlässig funktionieren Sensoren und Radar-Module unter realen Einsatzbedingungen?
• Wo befinden sich Schwachstellen, die spätere Ausfälle oder Leistungseinbußen verursachen können?
• Wie lassen sich Entwicklungszeiten verkürzen und kostspielige Fehlentwicklungen vermeiden?

Wir liefern belastbare Antworten durch präzise Messungen, datenbasierte Analysen und praxisnahe Validierungen.

• Entwicklung energieeffizienter Radar-Frontend-Module und Sensorsysteme
• Schaltungsanalyse und Design Review
• Systemtests, Inbetriebnahme und technische Fehleranalyse
• Validierung von Ultra-Low-Power-Software und Firmware
• Analyse und Optimierung des Energieverbrauchs bis in den Mikroampere-Bereich
• Hochfrequenzcharakterisierung von Komponenten und Systemen
• Unterstützung bei der Überführung neuer Technologien in die Anwendung

• Materialcharakterisierung von Wellenleitern und Hochfrequenz-Modulen bis 1 THz
• Antennencharakterisierung bis 320 GHz
• S-Parameter-Messungen bis 500 GHz
• Bewertung von Hochfrequenzkomponenten für anspruchsvolle Einsatzszenarien
• Analyse von Energieeffizienz und Systemperformance auf Komponenten- und Systemebene

Unsere Labor- und Messtechnik ermöglicht die präzise Charakterisierung und Bewertung von Materialien, Komponenten und kompletten Systemen über einen breiten Frequenzbereich.

Antennencharakterisierung

• Reflexionsarme Antennenmesskammer mit sphärischem Roboterscanner für eine vollständige 360°-Charakterisierung von Antennen: NSI MI7000
• Nahfeldmessungen von 18 GHz bis 40 GHz sowie Fernfeldmessungen von 40 GHz bis 320 GHz

• Unterstützte Antennenschnittstellen: HF-Steckverbinder, Wellenleiter oder GSG-Sonden (Ground-Signal-Ground)

Materialcharakterisierung I Frequenzbereich von 1 MHz bis 1 THz

• Fabry-Pérot-Resonator mit einem Frequenzbereich von 18 GHz bis 140 GHz
• Freiraum-Aufbau bis 70 GHz
• Vektornetzwerkanalysator mit Frequenzerweiterungen bis 500 GHz
• Impedanzanalysator
• Verschiedene Resonatoren
• Quasi-optischer Prüfstand
• THz-Spektrometer

On-Wafer-Messungen

• Halbautomatisches 300-mm-Probesystem für On-Wafer-Messungen bis 330 GHz (Temperaturbereich: −60 °C bis +200 °C)
• Zwei manuelle 200-mm-Waferprober für Messungen bis 330 GHz und Temperaturen bis 300 °C

Hochgeschwindigkeitssignalanalyse

• Arbiträrgenerator mit 64 GS/s
• Spektrumanalysator bis zu 50 GHz
• Modulatoren/Demodulatoren bis zu 330 GHz
• Bitfehlerratentester bis zu 64 Gb/s
• Abtastoszilloskop bis zu 80 GS/s

Energie- und Leistungscharakterisierung

• Präzisionsmultimeter für hochgenaue Spannungs-, Strom-, Widerstands-, Kapazitäts- und Temperaturmessungen (10 nV, 1 pA, 1 μΩ, 100 fF, 3 Hz, 1 m°C)
• 4 Quadranten Stromversorgung für arbiträre Versorgungs- und Lastprofile
• Automatisierter Prüfstand für Langzeitmessungen zur Energiebilanzierung und funktionellen Zuverlässigkeit
• LCR-Meter für Baugruppencharakterisierung
• Logikanalysator für gängige digitale Schnittstellen (z. B. I²C, SPI, UART und RS485)

• Entwicklungsrisiken frühzeitig erkennen und reduzieren
• HF-, Ultra-Low-Power- und Embedded-Systeme durch gezielte Fehleranalyse und Validierung optimieren
• Energieverbrauch bereits in frühen Entwicklungsphasen gezielt optimieren
• Entwicklungszeiten durch fundierte Messdaten und Validierungen verkürzen
• Neue Technologien schneller in marktfähige Anwendungen überführen

Ob energieeffiziente Sensorik, leistungsfähige Hochfrequenzmodule oder neuartige Radartechnologien: Wir unterstützen Sie dabei, technische Herausforderungen zu lösen, Entwicklungsrisiken zu minimieren und das Potenzial Ihrer Innovationen voll auszuschöpfen.

Sprechen Sie mit uns über Ihr Projekt. Gemeinsam entwickeln wir Lösungen, die wissenschaftliche Erkenntnisse in wirtschaftlichen Erfolg überführen.