Ausstattung

Wir bieten Ihnen thermische Untersuchungen aus zwei Richtungen an – der des Werkstoffes und der des Systems. Um thermische Interface-Materialien (TIM) charakterisieren zu können, entstand ein Arbeitsplatz zur Bestimmung von Wärmeleitfähigkeiten und thermischen Widerständen in Abhängigkeit der Anpresskraft. Die bildgebende Infrarot-Messtechnik erlaubt es, berührungslos Temperaturen und Fehler in Systemen, Baugruppen oder Bauteilen zu detektieren.

Thermal Interface Material Analysis (TIMA)

• Untersuchung von Pasten, Kleber und Folien
• Messung der thermische Leitfähigkeit und des thermischen Widerstands, Kraft/Weg gesteuert, 5% Genauigkeit
• Zuverlässigkeitsuntersuchungen von thermischen Kleberverbindungen unter Wechselbelastungen

Thermal Conductivity Test (TCT)

• Analyse von Verkapselungsmaterialien, Metallen und Keramikwerkstoffen
  
• Statische Messung an definierten Proben (Ø6x20 mm; Ø6x35mm)
  
• Thermische Leitfähigkeitsmessung von Bulk-Material

Infrarot(IR)-Messsystem

• zerstörungsfreie Prüfung durch hoch auflösende (20 µm) IR-Thermographie
• Anregungsquellen: Blitzlampen, Laser, Ultraschall, Wirbelstrom
• Bildgebende Temperaturerfassung (Wärmeflussthermographie)
• Detektion von Fehlerstellen, Einschlüssen, Rissen und Delaminationen in der elektronischen Aufbau- und Verbindungstechnik, Bauteilträgern und Komponenten
• (Fehler-)Analyse kleinster mikrotechnologischer Aufbauten
  

Thermisch-transiente Messungen (TTM)

• In-situ-Messung an aktiven, leistungselektronischen Systemen mit bis zu 600 A
• Schnelle Messung des thermisch-transienten Widerstands – vom Chip bis zum Kühlungssystem
• Analyse des kompletten thermischen Pfad
• Angebotsflyer für TTM mit weiteren Details zum Download (pdf/191KB)
  
  

Rechengestützte Flussdynamiksimulation (CFD)

• Flussoptimierung des Wärmeaustauschs von Kühlkörpern, Wärmespreizern und Heatpipes im Windkanal in Korrelation mit Computational-Fluid-Dynamics-Simulationen

Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)

• Messung mit RFA Spektrometer und Röntec PolyTAX EDXRD/EDXRF
• Analyse seltener Erden und weiteren Materialien, die in elektronischen Systemen verwendet werden