Award

Wissenschaftler des Fraunhofer IZM, der TU Berlin und TU Hamburg-Harburg erhalten den 2016 IEEE CPMT Best Journal Paper Award

27.6.2017

Wissenschaftler des Fraunhofer IZM, der TU Berlin und TU Hamburg-Harburg erhalten den 2016 IEEE CPMT Best Journal Paper Award

v.l.n.r: Prof. Dr. Klaus-Dieter Lang, Jean Trewhella, David Dahl, Ivan Ndip

Wissenschaftler des Fraunhofer IZM (Ivan Ndip, Klaus-Dieter Lang, Xiaomin Duan (jetzt bei IBM)), der TU Berlin (Klaus-Dieter Lang) und der TU Hamburg-Harburg (David Dahl, Torsten Reuschel, Jan Birger Preibisch, Christian Schuster) wurden für ihr Paper „Efficient Total Crosstalk Analysis of Large Via Arrays in Silicon Interposers“ mit dem IEEE CPMT Best Journal Paper Award 2016 geehrt.

Das Paper (veröffentlicht in: IEEE Transactions on CPMT, Vol. 6, Ausgabe 12, S. 1889 – 1898) wurde in der Kategorie „Electrical Performance of Integrated Systems“ ausgezeichnet. Der Preis wurde überreicht von IEEE CPMT Präsidentin Jean Trewhella am 1. Juni 2017 im Rahmen der CPMT Award Ceremony während der 67. IEEE Electronic Components Technology Conference, ECTC, in Lake Buena Vista, Florida, USA.

Das ausgezeichnete Paper basiert auf einem von der DFG geförderten Forschungsprojekt über Through Silicon Vias zwischen TU Berlin, TU Hamburg-Harburg und dem Fraunhofer IZM.

Die Components, Packaging and Manufacturing Technology (CPMT) Society ist Teil des Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE).