Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZMMaterialanalyse bis 2 THz
Analyse der HF-Eigenschaften von festen und pastösen Materialien
Problemlage
- Schaltungen mit hohen Datenraten oder für hohe Frequenzen werden Mainstream
- Mit zunehmender Frequenz nimmt der Einfluss der Materialeigenschaften auf das Schaltungsverhalten zu
(Leiterplattenbasismaterial, deren Zuschlagsstoffe, Kleber, Steckergehäuse, …) - HF-Materialeigenschaften sind nicht bekannt, weil
- Neuentwicklungen auf den Markt kommen und/oder die Substitution bewährter Materialien gefordert wird (Bsp. Teflon/ PFAS-Verbot)
- die Eigenschaften bewährter Materialien für hohe Frequenzen nicht bekannt sind
Unser Angebot
1. Materialanalyse bis 2 THz
- Für feste und pastöse Proben
- für ultradünne Proben (<60µm) mittels Resonatormethode bis 140GHz
- Freistrahl bis 2THz