Seminar  /  10. November 2022  -  11. November 2022, 10:00-18:00 // 9:00-16:00

Zuverlässigkeit elektronischer Systeme

Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein. Das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) organisiert ein zweitägiges Seminar, welches den Teilnehmer*innen die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt.

Zur Absicherung der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme in allen Entwicklungsphasen liegt der Fokus auf den Themenfeldern:

  • Definition und Einordnung wichtiger Begriffe
  • Methoden zur Systembewertung
  • Einflüsse von Belastungen und deren Ausfallmechanismen
  • Empirische und physikalische Alterungsmodelle
  • Simulationssystematik
  • Realitätsnahe Umsetzung von Belastungstests
  • Interpretation und Auswertung von Versuchsergebnissen
  • Umgang mit Zuverlässigkeitskennwerten
  • Absicherung der Zuverlässigkeit durch Zustandsüberwachung
  • Analytische Messmethoden
Das Seminar richtet sich bevorzugt an Ingenieure/-innen aus den Bereichen Entwicklung, Technologie, Produktion, Fertigung und Qualitätssicherung. Den Teilnehmern werden Methoden und Hintergründe zur Absicherung der Zuverlässigkeit im Entwicklungs- und Produktionsprozess elektronischer Systeme vermittelt.
Die Veranstaltung wird von der Fachabteilung Environmental and Reliability Engineering des Fraunhofer-Instituts für Zuverlässigkeit und Mikrointegration am Standort in Berlin angeboten.