Online Seminar  /  17. November 2021  -  18. November 2021, (9:00-16:15 // 9:00-16:15)

Zuverlässigkeit elektronischer Systeme

Die zweitägige Veranstaltung wird von der Fachabteilung Environmental and Reliability Engineering des Fraunhofer-Instituts für Zuverlässigkeit und Mikrointegration am Standort in Berlin angeboten.

Sie richtet sich bevorzugt an Ingenieure/-innen aus den Bereichen Entwicklung, Technologie, Produktion, Fertigung und Qualitätssicherung. Den Teilnehmern werden Methoden und Hintergründe zur Absicherung der Zuverlässigkeit im Entwicklungs- und Produktionsprozess elektronischer Systeme vermittelt.

Der erste Tag des Seminars startet mit der Schaffung eines gemeinsamen Verständnisses von Begriffen. Es werden Methoden zur Untersuchung von Systemen und zur Festlegung der Randbedingungen vorgestellt, die die Bewertung der Systemzuverlässigkeit ermöglichen.

Um Abschätzungen über die zu erwartende Lebensdauer vorhersagen zu können, sind applikationsspezifische Belastungsprofile notwendig. Diese werden in Korrelation mit Testprofilen gebracht.
Am zweiten Veranstaltungstag werden zuerst die Möglichkeiten und Grenzen numerischer Simulation aufgezeigt, um Entwicklungen frühzeitig zu unterstützen.
Die Wichtigkeit der Strukturanalyse und Materialcharakterisierung für quantitative Zuverlässigkeitsaussagen wird diskutiert. Des Weiteren werden verschiedene Methoden vorgestellt, um die Zuverlässigkeit im Test und Feld erfassen zu können. Beide Tage werden jeweils mit einem Workshop beendet, in dem die Teilnehmer das erlernte Wissen unter Anleitung an-wenden. Die nachhaltige Wissensvermittlung steht dabei im Fokus.

Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein.
Das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) organisiert ein zweitägiges Seminar, welches den Teilnehmern die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt. Zur Absicherung der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme in allen Entwicklungsphasen liegt der Fokus auf den Themenfeldern:

  • Definition und Einordnung wichtiger Begriffe
  • Methoden zur Systembewertung
  • Einflüsse von Belastungen und deren Ausfallmechanismen
  • Empirische und physikalische Alterungsmodelle
  • Simulationssystematik
  • Realitätsnahe Umsetzung von Belastungstests
  • Interpretation und Auswertung von Versuchsergebnissen
  • Umgang mit Zuverlässigkeitskennwerten
  • Absicherung der Zuverlässigkeit durch Zustandsüberwachung
  • Analytische Messmethoden
Die Abteilung Environmental & Reliability Engineering (ERE) unterstützt Kunden (und die anderen IZM-Abteilungen) sowohl in Zuverlässigkeitsfragen als auch durch die Evaluierung von Umwelteinflüssen auf elektronische Komponenten.

Das Seminar wird von Experten/Wissenschaftlern der Abteilung ERE durchgeführt. In den Kaffee- und Mittagspausen stehen die IZM-Wissenschaftler für weitere Fragen zur Verfügung.