Seminar  /  14.11.2019  -  15.11.2019

Zuverlässigkeit elektronischer Systeme

Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein. Das Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) organisiert ein zweitägiges Seminar, welches den Teilnehmern die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt.

Zur Absicherung der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme in allen Entwicklungsphasen liegt der Fokus auf den Themenfeldern:

  • Definition und Einordnung wichtiger Begriffe
  • Methoden zur Systembewertung
  • Einflüsse von Belastungen und deren Ausfallmechanismen
  • Empirische und physikalische Alterungsmodelle
  • Simulationssystematik
  • Realitätsnahe Umsetzung von Belastungstests
  • Interpretation und Auswertung von Versuchsergebnissen
  • Umgang mit Zuverlässigkeitskennwerten
  • Absicherung der Zuverlässigkeit durch Zustandsüberwachung
  • Analytische Messmethoden