Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZMVom 20.-22. März 2018 findet in Stuttgart die Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS) statt. Das Fraunhofer IZM stellt auf der begleitenden Fachmesse seine Aktivitäten im Bereich der Qualitätssicherung für Leistungselektronik vor, die ein wesentlicher Bestandteil der Produktabsicherung ist.
Das Fraunhofer IZM bietez seinen Kunden mehrere Teststände, an denen elektrische Lastwechseltest (Active Power Cycling) nach LV 324 durchgeführt werden und die umgehend Daten zur Lebensdauer von Leistungshalbleitermodulen liefern. Das Einsatzgebiet (z. B. Windenergie, Photovoltaik, Automotive) entscheidet dabei über die richtigen Testparameter und ‑verfahren. Das Fraunhofer IZM bietet eine umfassende Beratung bei der Auswahl dieser unter Berücksichtigung der jeweiligen Mission Profiles. Auf Grundlage der durchgeführten Lastwechseltests werden Lebensdauermodelle der Leistungsmodule erstellt und Kunden erfahren alles über die richtige Auslegung des Leistungselektronikdesigns sowie die Kontaktierung (z. B. Wire/Ribbon Bonds, Die-Attach).
Besuchen Sie uns an unserem Stand, wir freuen uns auf Sie!
Testaufbau zu Zuverlässigkeitsprüfung eingebetteter Leistungsmodule mittels Active Power Cycling