Nürnberg Messe / 09. Juni 2026 - 11. Juni 2026
Das Fraunhofer IZM auf der Sensor+Test
Halle 1, Stand 1-317
Halle 1, Stand 1-317
Erleben Sie auf der SENSOR+TEST 2026 die neuesten Entwicklungen des Fraunhofer IZM: energieeffiziente Lösungen für hochminiaturisierte Sensorsysteme (Green ICT), innovative Hardware-Konzepte und Radarsensorik. Zudem präsentieren wir Forschungsergebnisse zu Advanced-Packaging, Smart-System-Integration und Photonik in Dünnglas auf Panel-/Waferlevel.
Lernen Sie unsere Expert*innen aus den Abteilungen RF & Smart Sensor Systems, Wafer Level System Integration und optische Verbindungstechnik kennen und tauschen Sie Erfahrungen aus.
Das Fraunhofer IZM ist weltweit führend in der Systemintegration auf Wafer-Ebene. Schlüsseltechnologien hierfür sind die Herstellung von vertikalen Durchkontaktierungen in Silizium- und Glaswafern sowie hochdichter Mehrlagenverdrahtungssysteme in Dünnfilmtechnik, Häusungs- und Verkapselungstechniken auf Wafern als auch das Verbinden von integrierten Schaltungen und Substraten untereinander mittels feinster metallischer Kontakte.
Für Experimente mit Synchrotronstrahlung und für die Röntgenbildgebung gelten hybride Pixeldetektormodule als Stand der Technik. Anhand eines kompakten Röntgendetektors im USB‑Stick‑Format demonstriert die Abteilung »Wafer Level System Integration« ihre Expertise in der Aufbau‑ und Verbindungstechnik solcher hochintegrierten Pixeldetektorsysteme.
Ausgestellte Exponate:
Die Arbeitsgruppe »Optische Verbindungstechnik« entwickelt Lösungen für die Integration und Verbindung von Photonik und Elektronik. Unsere Teams realisieren 2D‑Konnektivität für elektro‑optische Leiterplatten sowie 3D‑Konnektivität durch Photonic System Assembly.
Dünnglas‑Technologien ermöglichen laserstrukturierte, hermetisch versiegelte optische Schnittstellen in gestapelten Packages – skalierbar in Panel‑ und Wafer‑Prozessen.
Auf der Sensor+Test 2026 zeigen wir u. a. Photonic Wire Bonding und mikrooptischen Druck.
Ausgestellte Exponate:
Ausgestellte Exponate: